光學(xué)粗糙度儀的產(chǎn)品優(yōu)勢
日期：2025-06-02 17:00
瀏覽次數：678
摘要：
光學(xué)粗糙度儀是一種測量表面粗糙度和預測紙張可印刷性的儀器。與傳統的光學(xué)表面粗糙度測量方法相比，它速度更快、質(zhì)量更好、成本更低。該方法由Innventia開(kāi)發(fā)，十多年來(lái)已被證明是評估紙張表面和打印缺陷之間相關(guān)性的一種出色測試方法。
優(yōu)勢：
快速光學(xué)方法——幾秒鐘內即可生成測試報告
可印刷性綜合預測
低成本測量設備
廣泛的測量范圍
高分辨率CMOS攝像機
易于安裝和啟動(dòng)
符合人體工程學(xué)，自動(dòng)化，操作簡(jiǎn)單
采用觸摸屏和用戶(hù)友好界面
輪廓測量配有帶材給料機
低維護量
尊敬的客戶(hù)：
本公司還有軸類(lèi)測量、螺紋測量?jì)x、TRIMOS測長(cháng)機產(chǎn)品，您可以通過(guò)網(wǎng)頁(yè)撥打本公司的服務(wù)專(zhuān)線(xiàn)了解更多產(chǎn)品的詳細信息，服務(wù)是我們的追求，歡迎新老客戶(hù)放心選購自己心儀產(chǎn)品，我們將竭誠為您服務(wù)！
