光學(xué)粗糙度儀的測量方法
日期：2025-06-04 07:13
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摘要：
光學(xué)粗糙度儀為測量粗糙度的高精度精密儀器；該儀器采用德國先進(jìn)技術(shù)，優(yōu)化的結構和簡(jiǎn)易的操作設計，使得該高效率設備得到更易的使用，是積累數十年的表面計量學(xué)經(jīng)驗，結合未來(lái)焦點(diǎn)技術(shù)生產(chǎn)的*新計量設備，它囊括了各大實(shí)驗室、車(chē)間和檢測部門(mén)所有常用的，基于國際標準的粗糙度測量。
比較法：將被測表面與標有一定評定參數值的表面粗糙度樣板比較從判斷被測表面的粗糙度。
光切法：應用光切原理測量表面粗糙度的一種測量方法。按光切原理制成的儀器叫做光切顯微鏡。這種方法用來(lái)測量Rz.
干涉法：利用光波干涉原理測量表面粗糙度的一種方法。按干涉原理制成的儀器叫做干涉顯微鏡，一般用來(lái)測量粗糙度值要求低的表面。
針描法：接觸式測量表面粗糙度的方法，為常見(jiàn)。
當然方便快捷的話(huà)，還是需要3D光學(xué)粗糙度儀。
